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雙探頭表面三維形貌分析系統(tǒng)

產(chǎn)品介紹

產(chǎn)品介紹：

  采用彩色激光共焦技術(shù)，可實(shí)現(xiàn)對(duì)材料表面微米、次微米級(jí)粗糙度檢測(cè)，并且可以進(jìn)行2D輪廓/3D微觀形貌掃描分析，具有測(cè)量精度高，速度快，重復(fù)性好的優(yōu)點(diǎn)。

    該系統(tǒng)可用于測(cè)量大尺寸樣品，軟件功能含括了點(diǎn)測(cè)量、線測(cè)量、面測(cè)量等強(qiáng)大的功能，可選模塊包括2D&3D粗糙度檢測(cè)與分析、2D輪廓測(cè)量與3D形貌分析、平面度檢測(cè)、共面度檢測(cè)、平行度檢測(cè)等。

本系統(tǒng)特點(diǎn)：

一、采用傳動(dòng)裝置：直線磁軸電機(jī)驅(qū)動(dòng)

二、專業(yè)集成設(shè)計(jì)

三、豐富的三維計(jì)測(cè)

四、多樣的三維觀察

技術(shù)參數(shù)