首頁 > 顯微鏡 > 掃描探針顯微鏡 > 原子力顯微鏡光學一體機 FM-Nanoview Op-AFM


原子力顯微鏡光學一體機 FM-Nanoview Op-AFM

SKU: FM-Nanoview Op-AFM

產品介紹

 

 

 光學金相顯微鏡原子力顯微鏡一體化設計,功能強大

 同時具備光學顯微鏡和原子力顯微鏡成像功能,兩者可同時工作,互不影響

 同時具備光學二維測量和原子力顯微鏡三維測量功能

 激光檢測頭和樣品掃描臺集成一體,結構非常穩(wěn)定,抗干擾性強
 精密探針定位裝置,激光光斑對準調節(jié)非常簡便
 單軸驅動樣品自動垂直接近探針,使針尖垂直于樣品掃描
 馬達控制加壓電陶瓷自動探測的智能進針方式,保護探針及樣品

 超高倍光學定位系統(tǒng),實現(xiàn)探針和樣品掃描區(qū)域精確定位
 集成掃描器非線性校正用戶編輯器,納米表征和測量精度優(yōu)于98%

 

技術參數(shù)

 

工作模式 接觸模式、輕敲模式 光學目鏡 10X
選配模式 摩擦力/側向力、振幅/相位、磁力/靜電力 照明方式 LED柯勒照明系統(tǒng)
力譜曲線 F-Z力曲線、RMS-Z曲線 光學調焦 粗微動手動調焦
XY掃描范圍 50×50um,可選20×20um,100×100um 攝像頭 500萬像素CMOS傳感器
Z掃描范圍 5um,可選2.5um,10um 顯示屏 10.1寸平板顯示器,帶圖像測量功能
掃描分辨率 橫向0.2nm,縱向0.05nm 掃描速率 0.6Hz~30Hz
樣品尺寸 Φ≤68mm,H≤20mm 掃描角度 0~360°
樣品臺行程 25×25mm 運行環(huán)境 Windows XP/7/8/10操作系統(tǒng)
光學物鏡 5X/10X/20X/50X平場復消色差物鏡 通信接口 USB2.0/3.0

 應用案例 

   GaN襯底掃描范圍3µm×3µm.png      單晶硅金字塔.png  掃描范圍30µm×30µm.png

 

           GaN襯底/掃描范圍3µm×3µm                                              單晶硅金字塔/掃描范圍30µm×30µm

 

    微米光柵.png         MoTe.png    掃描范圍16µm×16µm.png

    微米光柵/掃描范圍30µm×30µm                                                MoTe/掃描范圍16µm×16µm

包裝清單

 


相關產品

FM-AR532/AR785原子力顯微鏡與激光拉曼光譜儀一體機
FM-AR532/AR785原子力顯微鏡與激光拉曼光譜儀一體機
對納米材料表面形貌、顆粒度、粗糙度和拉曼光譜性能進行表征、分析
FM-Nanoview1000AFM 分體式原子力顯微鏡
FM-Nanoview1000AFM 分體式原子力顯微鏡
帶光學定位的CCD觀測系統(tǒng),實時觀測與定位探針樣品掃描區(qū)域
FM-Nanoview6800一體式原子力顯微鏡
FM-Nanoview6800一體式原子力顯微鏡
開啟全民原子力顯微鏡時代,掃描范圍更廣,定位更精確
自由曲面三維面型檢測系統(tǒng)
自由曲面三維面型檢測系統(tǒng)

原子力顯微鏡(環(huán)境控制型)FM-Nanoview EC-AFM
原子力顯微鏡(環(huán)境控制型)FM-Nanoview EC-AFM

三維測量顯微鏡
三維測量顯微鏡



首頁 > 顯微鏡 > 掃描探針顯微鏡 > 原子力顯微鏡光學一體機 FM-Nanoview Op-AFM
頁面執(zhí)行0.081174 秒