首頁 > 顯微鏡 > 掃描探針顯微鏡 > 原子力顯微鏡光學一體機 FM-Nanoview Op-AFM |
原子力顯微鏡光學一體機 FM-Nanoview Op-AFM
產品介紹
◆ 同時具備光學顯微鏡和原子力顯微鏡成像功能,兩者可同時工作,互不影響 ◆ 同時具備光學二維測量和原子力顯微鏡三維測量功能 ◆ 激光檢測頭和樣品掃描臺集成一體,結構非常穩(wěn)定,抗干擾性強 ◆ 超高倍光學定位系統(tǒng),實現(xiàn)探針和樣品掃描區(qū)域精確定位
技術參數(shù)
應用案例
GaN襯底/掃描范圍3µm×3µm 單晶硅金字塔/掃描范圍30µm×30µm
微米光柵/掃描范圍30µm×30µm MoTe/掃描范圍16µm×16µm 包裝清單
|
FM-AR532/AR785原子力顯微鏡與激光拉曼光譜儀一體機 對納米材料表面形貌、顆粒度、粗糙度和拉曼光譜性能進行表征、分析 |
FM-Nanoview1000AFM 分體式原子力顯微鏡 帶光學定位的CCD觀測系統(tǒng),實時觀測與定位探針樣品掃描區(qū)域 |
||||||
FM-Nanoview6800一體式原子力顯微鏡 開啟全民原子力顯微鏡時代,掃描范圍更廣,定位更精確 |
自由曲面三維面型檢測系統(tǒng) |
||||||
原子力顯微鏡(環(huán)境控制型)FM-Nanoview EC-AFM |
三維測量顯微鏡 |
||||||
首頁 > 顯微鏡 > 掃描探針顯微鏡 > 原子力顯微鏡光學一體機 FM-Nanoview Op-AFM |