首頁 > 顯微鏡 > 掃描探針顯微鏡 > 平板掃描式原子力顯微鏡FM-Nanoview LSCL-AFM |
平板掃描式原子力顯微鏡FM-Nanoview LSCL-AFM
產(chǎn)品介紹
◆實現(xiàn)探針和樣品組合式移動掃描的商業(yè)化原子力顯微鏡; ◆采用三軸獨立閉環(huán)壓電平移式掃描臺,實現(xiàn)大范圍高精度掃描; ◆ 三軸獨立式掃描,XYZ互不影響,非常適合三維材料及形貌檢測; ◆ 電動控制樣品移動臺和升降臺,可任意編程多點位置實現(xiàn)快速自動化檢測; ◆ 龍門架式掃描頭設(shè)計,大理石底座,真空吸附和磁性吸附式載物臺; ◆ 閉環(huán)壓電掃描臺無需非線性校正,納米表征和測量精度優(yōu)于99.5%。 技術(shù)參數(shù)
應(yīng)用案例
砷化鎵晶圓/掃描范圍0.9µm×0.9µm/Sa=2.15nm,Sq=2.69nm |
FM-AR532/AR785原子力顯微鏡與激光拉曼光譜儀一體機 對納米材料表面形貌、顆粒度、粗糙度和拉曼光譜性能進行表征、分析 |
FM-Nanoview1000AFM 分體式原子力顯微鏡 帶光學(xué)定位的CCD觀測系統(tǒng),實時觀測與定位探針樣品掃描區(qū)域 |
||||||
FM-Nanoview6800一體式原子力顯微鏡 開啟全民原子力顯微鏡時代,掃描范圍更廣,定位更精確 |
自由曲面三維面型檢測系統(tǒng) |
||||||
原子力顯微鏡(環(huán)境控制型)FM-Nanoview EC-AFM |
原子力顯微鏡光學(xué)一體機 FM-Nanoview Op-AFM |
||||||
首頁 > 顯微鏡 > 掃描探針顯微鏡 > 平板掃描式原子力顯微鏡FM-Nanoview LSCL-AFM |