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SGW X-4B顯微熔點(diǎn)儀

SKU: SGWX-4B
測定物質(zhì)的熔點(diǎn)。用于藥物、化工、紡織、染料等晶體有機(jī)化合物之測定，顯微鏡觀察。
  • 熔點(diǎn)測量范圍：室溫至320℃
  • 最小讀數(shù)：0.1℃
  • 測量重復(fù)性：±1℃（在<200℃時）         ±2℃（在200～300℃時）
  • 配雙目體視顯微鏡
  • 光學(xué)放大倍數(shù)：40X-100X連續(xù)可調(diào)
注意事項(xiàng)：
儀器成套性與可選購件可參考產(chǎn)品原頁面，本頁只提供儀器核心技術(shù)參數(shù)。
產(chǎn)品價格均含有商品運(yùn)費(fèi)（大陸地區(qū)除外）及發(fā)票的價格但是不包含工程師上門培訓(xùn)及調(diào)試的費(fèi)用。
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科信報價：￥0.00