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WRS-1B數(shù)字熔點(diǎn)儀
產(chǎn)品介紹測定晶體物質(zhì)的熔點(diǎn)以確定其純度。主要用于藥物、染料、香料等晶體有機(jī)化合物熔點(diǎn)之測定。光電檢測,數(shù)字顯示。配有RS232接口,可向PC機(jī)傳輸數(shù)據(jù),顯示熔化曲線。 技術(shù)參數(shù)熔點(diǎn)測量范圍:室溫至300℃
溫度顯示最小示值:0.1℃
線性升溫速率:0.2,0.5,1.0,1.5,2.0,3.0,4.0,5.0(℃/min)
測量準(zhǔn)確率:<200℃±0.5℃
200℃~300℃時(shí):±0.8℃
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SGW X-4B顯微熔點(diǎn)儀 |
X4|X5|X6系列顯微熔點(diǎn)測定儀 |
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SGW X-4顯微熔點(diǎn)儀(數(shù)顯 |
SGW X-4A顯微熔點(diǎn)儀 |
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RDY-1顯微熔點(diǎn)儀 |
WRR熔點(diǎn)儀 |
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